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產(chǎn)品分類CLASSIFICATION
詳細(xì)介紹
提醒:開門或關(guān)門及從箱內(nèi)取測試物時(shí),不能讓測試物與門邊上的膠邊接觸,防止膠邊被破壞和縮短壽命;配電箱內(nèi)的超溫保護(hù)器設(shè)定值不能隨便改動,機(jī)器在出廠時(shí)已調(diào)好;
試驗(yàn)箱采用整體式組合結(jié)構(gòu)形式,既試驗(yàn)箱由位于上部的高溫試驗(yàn)箱,位于下部的低溫試驗(yàn)箱體、位于后部的制冷機(jī)組柜和位于左側(cè)后板上的電器控制柜(系統(tǒng))所組成.此方式箱體占地面積小、結(jié)構(gòu)緊湊、外形美觀,制冷機(jī)組置于獨(dú)立的機(jī)組箱體內(nèi),以減少制冷機(jī)組運(yùn)行時(shí)的震動、噪聲對試驗(yàn)箱的影響.
冷熱沖擊測試設(shè)備主要配置:
1、內(nèi)箱材質(zhì)采用SUS304不銹鋼板,外箱材質(zhì)采用SEEC鋼板外加靜電噴涂或不銹鋼拉絲板,增加外觀質(zhì)感及潔凈度,造型美觀大方。
2、箱體保溫層采用高強(qiáng)度PU及保溫棉,達(dá)到優(yōu)良的保溫效果。
3、試驗(yàn)箱配置50mm,測試孔,配發(fā)泡硅膠塞密封,可外接測試電源線或信號線使用。
4、機(jī)器底部采用高品質(zhì)可固定式PU活動輪,附水平腳。
5、*溫濕度控制器,具有操作簡單,易學(xué),控制精度高,*PID模式,可節(jié)能10%以上。
6、可以獨(dú)立設(shè)定高溫、低溫、冷熱沖擊三種不同條件,具備高低溫試驗(yàn)機(jī)的功能。
7、可設(shè)定循環(huán)次數(shù)及除霜次數(shù)自動(手動)除霜.出風(fēng)口于回風(fēng)口感知器檢測控制,風(fēng)門機(jī)構(gòu)切換時(shí)間為10秒內(nèi)完成。
8、具備全自動,高精密系統(tǒng)回路、任一機(jī)件動作,*有P.L.C鎖定處理,全部采用P.I.D自動演算控制。
9、溫度恢復(fù)時(shí)間為5分鐘內(nèi)完成。
10、運(yùn)轉(zhuǎn)中發(fā)生異常狀況時(shí),螢?zāi)簧霞纯套詣语@示故障原因,并于發(fā)現(xiàn)輸入電力不穩(wěn)定時(shí),具有緊急停機(jī)裝置。
11、可選配USB接口存儲方便,到有標(biāo)準(zhǔn)的RS-232或RS-485計(jì)算機(jī)通訊接口。實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程控制。
冷熱沖擊測試設(shè)備技術(shù)性能:
1、高溫儲熱范圍:+60℃--+200℃
2、低溫儲冷范圍:-10℃~-55℃(A型) , -10℃~-65 ℃(B型) ,-10℃~-75℃(C型)
3、試驗(yàn)范圍:
高溫:+60℃~+150℃
低溫:-10℃~-40℃(A型);-10℃~-55℃(B型);-10~-60℃(C型)
4、升溫時(shí)間:+60℃~+200℃約需25min
5、降溫時(shí)間:+20℃~-55℃小于60min;+20℃~-65℃小于75min;+20℃~-75℃小于90min;
6、風(fēng)門切換時(shí)間:小于或等于10S
7、溫度恢復(fù)時(shí)間:5min
8、溫度波動:±0.5℃
9、溫度偏差:±2℃
10、箱體大小選擇:
型號 | BY-260D | ||||||
63 | 100 | 120 | 225 | 500 | 1000 | ||
測試區(qū)尺寸cm | W | 40 | 50 | 60 | 50 | 80 | 100 |
D | 35 | 40 | 50 | 60 | 80 | 100 | |
H | 35 | 40 | 50 | 75 | 80 | 100 | |
外箱尺寸cm(約) | W | 150 | 160 | 170 | 180 | 260 | 280 |
D | 145 | 150 | 160 | 180 | 190 | 200 | |
H | 190 | 200 | 200 | 200 | 200 | 220 |
售后服務(wù):
北京普桑達(dá)儀器科技有限有限公司試驗(yàn)箱通過國家環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢測中心檢測合格。免費(fèi)送貨上門,并安裝調(diào)試操作介紹,同時(shí)進(jìn)行機(jī)器操作技術(shù)培訓(xùn)。(直到需方員工獨(dú)立操作并滿意為止)。
制造標(biāo)準(zhǔn):
本產(chǎn)品符合GB/T2423.1.2 GB10592-89 GJB150 等國家標(biāo)準(zhǔn)。
常見的執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)
1、GJB 150-86《設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法》
2、GB 2423《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》
3、MIL-STD-810F《環(huán)境工程考慮和實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)》
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