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產(chǎn)品分類CLASSIFICATION
詳細(xì)介紹
品牌 | 普桑達(dá) |
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電子產(chǎn)品高低溫試驗(yàn)的詳細(xì)說明:
高低溫試驗(yàn)箱是對電子產(chǎn)品做測試,依據(jù)電子產(chǎn)品本身國家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求,電子產(chǎn)品在低溫、高溫、條件下,其物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測試,測試后,通過檢測,來判斷電子產(chǎn)品的性能,是否仍然能夠符合預(yù)定要求,以便供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。
電子產(chǎn)品高低溫試驗(yàn)--滿足標(biāo)準(zhǔn):
性能指標(biāo)符合GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗(yàn)設(shè)備》的要求電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法GB 2423.1-89 (IEC68-2-1)
?電工電子產(chǎn)品基本環(huán)試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法GB 2423.2-89 (IEC68-2-2)
?電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法GB/T 2423.3-93(IEC68-2-3)
?電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Da:交變濕熱試驗(yàn)方法GB/T423.4-93(IEC68-2-30)
?GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗(yàn)方法
?GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗(yàn)方法
?GJB4.5-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)恒定濕熱試驗(yàn)》
?GJB4.6-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)交變濕熱試驗(yàn)》
?GJB360.8-87(MIL-STD-202f)高溫壽命試驗(yàn)
?GB/T5170.2-96《溫度試驗(yàn)設(shè)備》
?GB/T5170.5-96《濕熱試驗(yàn)設(shè)備》
?GB10592-93《高、低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》
?GB10586-93《濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件》
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